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SYLVAC數顯萬分表
瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀
瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度,根據測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N,高分辨率0.01μm。
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瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀
薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度,根據測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N,高分辨率0.01μm。
瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀廣泛應用于醫藥、新能源電池等薄膜厚度測量,測量精度高,效率高,而且可將測量數據時時導出,傳到手機,電腦、pad等多種方式。
瑞士丹青公司不僅有這種簡便的膜厚測量儀,也有精度更高的臺式膜厚測量儀,滿足客戶不太的測量需求,可隨時咨詢我們。
![]() | 分辨率:0.1μm 測力:0.3-1.3N(根據需要選擇) |
![]() | 分辨率:1μm 測力:0.4-1.6N(根據需要選擇) |
![]() | 分辨率:0.01μm 測力:0.06-0.8N(根據 |
公司郵箱: wangjun@dantsin.cn
服務熱線: 0512-81880850
公司地址: 蘇州納米城
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備案號:蘇ICP備20016265號-7
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